RC-05分辨率測(cè)試卡

產(chǎn)品型號(hào)：
更新時(shí)間：2025-06-20

簡(jiǎn)要描述：RC-05分辨率測(cè)試卡致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。

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產(chǎn)品詳情

品牌	日本JIMA	產(chǎn)地	進(jìn)口

JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡,X射線分辨率測(cè)試卡詳細(xì)介紹：

JIMA RT RC-05分辨率測(cè)試卡
測(cè)試卡封裝在一個(gè)防護(hù)盒中
盒子的外形尺寸（W×D×T）：40×30×3mm
芯片尺寸（W×D×T）：8×8×0.2mm
圖案布局：T型（3-10μm）
I 型（15-50μm）
線/空間尺寸：16種規(guī)格圖案,
3μm,4μm,5μm,6μm,7μm,9μm,10μm （T型）
15μm,20μm,25μm,30μm,35μm,40μm,45μm,50μm (I 型)

JIMA（日本檢測(cè)儀器制造商協(xié)會(huì)），致力于關(guān)注各種檢測(cè)儀器，其中包括無(wú)損檢測(cè)儀器，JIMA分辨率測(cè)試卡，用于測(cè)量X射線系統(tǒng)的分辨率，以保證X射線系統(tǒng)在微米和納米焦點(diǎn)的圖像質(zhì)量。

SAG: JIMA RT RC-05,RT RC-05,JIMA分辨率測(cè)試卡,分辨率測(cè)試卡,X射線分辨率測(cè)試卡

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